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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：渦流測厚儀|氧化膜測厚儀
產(chǎn)品型號：TT230
產(chǎn)品簡介：
TT230 渦流測厚儀|氧化膜測厚儀TT230是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。
產(chǎn)品特性Product characteristics
TT230 渦流測厚儀|氧化膜測厚儀
TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀的詳細(xì)介紹
涂層測厚儀概述
TT230渦流測厚儀|氧化膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量；可廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，特別適用于工程現(xiàn)場測量。
符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
- GB/T 4957-1985 渦流方法
- JJG 818-93 《電渦流式測厚儀》
- JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀
涂層測厚儀功能特點(diǎn)
- 采用了渦流測厚法，可無損傷地測量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等
基底上的琺瑯、橡膠、油漆鍍層） - 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正
- 具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
- 具有刪除功能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
- 設(shè)有五個統(tǒng)計量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 具有米、英制轉(zhuǎn)換功能
- 具有打印功能，可打印測量值、統(tǒng)計值
- 具有欠壓指示功能
- 操作過程有蜂鳴聲提示
- 具有錯誤提示功能
- 具有自動關(guān)機(jī)功能
涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)
- 測頭類型：N
- 測量原理：電渦流
- 測量范圍： 0-1250um | 0-40um（銅上鍍鉻）
- 低限分辨力：1µm（10um以下為0.1um）
- 探頭連接方式：一體化
- 示值誤差：
- 一點(diǎn)校準(zhǔn)（um）：±[3%H+1.5]
- 兩點(diǎn)校準(zhǔn)（um）：±[（1%~3%）H+1.5]
- 測量條件：
- zui小曲率半徑（mm）：凸3 | 凹10
- 基體zui小面積的直徑（mm）：ф5
- zui小臨界厚度（mm）：0.3
- 溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
- 統(tǒng)計功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
- 工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
- 測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
- 上下限設(shè)置：無
- 存儲能力：15個測量值
- 打印/連接計算機(jī)：可選配打印機(jī)/能連接電腦
- 關(guān)機(jī)方式：自動
- 電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池
- 外形尺寸：150×55.5×23mm
- 重量：150g
涂層測厚儀基本配置
- 主機(jī)
- 鋁基體
- 標(biāo)準(zhǔn)片一套|五片
- 充電器
- 使用說明書
涂層測厚儀可選附件
- TA230打印機(jī)
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